基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
黄女士500G日历硬盘开盘恢复成功

黄女士500G日历硬盘开盘恢复成功 

日立硬盘开盘数据恢复成功

客户单位:桐城市某交通有限公司r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

设备:HTS54032B9SA02  SN:IX034OTJADWMKr6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

故障:硬盘不能读取r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

解决方案:南京西数工程师通过检测开盘修复,较终将客户所需数据全部恢复出来。r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

恢复结果:100%r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

客户反馈:满意r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件
       r6aflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

上一篇:王女士500G希捷硬盘开盘恢复成功
下一篇:张先生1TB西数硬盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|