基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
美国ITT古尔兹公司笔记本硬盘恢复成功

 故障:SONY笔记本使用中突然死机,硬盘里面发出铛铛响声,电脑无法识别硬盘,数据全部丢失。oJfflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

 
恢复:经检测,这块硬盘是由于磁头老化损坏导致硬盘发出异响,磁头不能正常归位,所以电脑认不到盘。通过开盘更换磁头,数据全部恢复。
上一篇:南京水科院移动硬盘烧毁数据恢复成功
下一篇:江苏南瑞集团迈拓40G硬盘开盘恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|