基于Flash Extractor芯片提取方案,受损Nand flash芯片数据分析,主控方案分析,TF一体盘引脚定义分析

Flash Extractor芯片分析电子取证技术2024培训报名,请发报名信息至:wd@wdsos.com
当前位置:首页 > 成功案例 > 硬盘检验检测案例 硬盘检验检测案例
希捷320G移动硬盘开盘数据恢复成功

 希捷320G移动硬盘开盘数据恢复成功。据客户描述他的硬盘在使用过程中突然不认盘,南京西数工程师通过检测后很快找到了数据丢失的原因,由于使用不当导致硬盘磁头损坏,在与客户沟通后,工程师马上为其进行了数据恢复,在工程师的不懈努力下,较终将客户所需数据全部恢复出来。Osrflash extractor芯片数据恢复软件 oracle extractor数据库修复软件

上一篇:南京雨花台王先生希捷160G硬盘开盘数据恢复
下一篇:合肥数据恢复-合肥高科技广场范先生开盘数据恢复成功
Copyright(C)2014 西数科技(江苏)有限公司 wdsos.com 备案号:苏ICP备09074223号 苏公网安备:32010202010982号
地址:江苏省南京市玄武区珠江路435号华海大厦6楼601室(同庆楼右侧上电梯) 
地址:江苏省淮安市清江浦区枚皋路中兴软件园研发楼506室 
热线:4006184118数据恢复:025-86883952  司法鉴定:13813824669 
|公众号|微博|论坛|百家号|